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https://dspace.ucuenca.edu.ec/handle/123456789/29218Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Granda Juca, Maria Fernanda | |
| dc.contributor.author | Condori Fernandez, Nelly | |
| dc.contributor.author | Vos, Tanja Ernestina | |
| dc.contributor.author | Pastor López, Oscar | |
| dc.date.accessioned | 2018-01-11T16:47:45Z | - |
| dc.date.available | 2018-01-11T16:47:45Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | |
| dc.identifier.isbn | 978-1-4673-6630-4 | |
| dc.identifier.issn | 0000-0000 | |
| dc.identifier.uri | https://ieeexplore.ieee.org/document/7128867 | |
| dc.description | En el desarrollo basado en modelos (MDD), los defectos se manejan a nivel de modelos conceptuales porque los otros artefactos se generan a partir de ellos, como modelos más refinados, casos de prueba y código. Aunque algunos estudios han informado sobre tipos de defectos a nivel de modelo, todavía no existe una descripción clara y completa de los tipos de defectos que ocurren a nivel de abstracción. Este artículo presenta un estudio de mapeo sistemático para identificar los tipos de defectos del modelo reportados en la literatura y determinar cómo se han detectado. Entre los 282 artículos publicados en el área de ingeniería de software, se seleccionaron 28 artículos para su análisis. Se identificaron un total de 226 defectos, se clasificaron y se analizaron sus resultados. Para esto, se construyó un esquema de clasificación de defectos apropiado basado en dimensiones apropiadas para modelos en un contexto MDD. | |
| dc.description.abstract | In Model-Driven Development (MDD), defects are managed at the level of conceptual models because the other artefacts are generated from them, such as more refined models, test cases and code. Although some studies have reported on defect types at model level, there still does not exist a clear and complete overview of the defect types that occur at the abstraction level. This paper presents a systematic mapping study to identify the model defect types reported in the literature and determine how they have been detected. Among the 282 articles published in software engineering area, 28 articles were selected for analysis. A total of 226 defects were identified, classified and their results analysed. For this, an appropriate defect classification scheme was built based on appropriate dimensions for models in an MDD context. | |
| dc.language.iso | es_ES | |
| dc.publisher | Institute of Electrical and Electronics Engineers | |
| dc.source | 2015 IEEE 9th International Conference on Research Challenges in Information Science (RCIS) | |
| dc.subject | Conceptual Schema Defects | |
| dc.subject | Defect Classification Scheme | |
| dc.subject | Systematic Mapping Study | |
| dc.subject | Model-Driven Development | |
| dc.title | What do we know about the defect types detected in conceptual models? | |
| dc.title.alternative | ¿Qué sabemos sobre los tipos de defectos detectados en los modelos conceptuales? | |
| dc.type | ARTÍCULO DE CONFERENCIA | |
| dc.description.city | Atenas | |
| dc.ucuenca.idautor | 0702952441 | |
| dc.ucuenca.idautor | 0000-0002-1044-3871 | |
| dc.ucuenca.idautor | Sgrp-2101-3 | |
| dc.ucuenca.idautor | 0000-0002-1320-8471 | |
| dc.identifier.doi | 10.1109/RCIS.2015.7128867 | |
| dc.ucuenca.version | Versión publicada | |
| dc.ucuenca.areaconocimientounescoamplio | 06 - Información y Comunicación (TIC) | |
| dc.ucuenca.afiliacion | Granda, M., Universidad de Cuenca, Departamento de Ciencias de la Computación, Cuenca, Ecuador | |
| dc.ucuenca.afiliacion | Condori, N., Vrije Universiteit Amsterdam, Amsterdam, Holanda | |
| dc.ucuenca.afiliacion | Vos, T., Universitat Politècnica de València, Valencia, España | |
| dc.ucuenca.afiliacion | Pastor, O., Universitat Politècnica de València, Valencia, España | |
| dc.ucuenca.correspondencia | Granda Juca, Maria Fernanda, fernanda.granda@ucueca.edu.ec | |
| dc.ucuenca.volumen | Volumen 0, número 0 | |
| dc.ucuenca.indicebibliografico | SCOPUS | |
| dc.ucuenca.numerocitaciones | 0 | |
| dc.ucuenca.areaconocimientofrascatiamplio | 2. Ingeniería y Tecnología | |
| dc.ucuenca.pais | GRECIA | |
| dc.ucuenca.conferencia | 2015 IEEE 9th International Conference on Research Challenges in Information Science (RCIS) | |
| dc.ucuenca.areaconocimientofrascatiespecifico | 2.2 Ingenierias Eléctrica, Electrónica e Información | |
| dc.ucuenca.areaconocimientofrascatidetallado | 2.2.4 Ingeniería de La Comunicación y de Sistemas | |
| dc.ucuenca.areaconocimientounescoespecifico | 061 - Información y Comunicación (TIC) | |
| dc.ucuenca.areaconocimientounescodetallado | 0613 - Software y Desarrollo y Análisis de Aplicativos | |
| dc.ucuenca.fechainicioconferencia | 2015-05-13 | |
| dc.ucuenca.fechafinconferencia | 2015-05-15 | |
| dc.ucuenca.organizadorconferencia | Institute of Electrical and Electronics Engineers | |
| dc.ucuenca.comiteorganizadorconferencia | Dimosthenis Anagnostopoulos, Universidad Harokopio de Atenas y Colette Rolland Université Paris 1 Panthéon-Sorbonne | |
| dc.ucuenca.urifuente | https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/7121393/proceeding | |
| dc.contributor.ponente | Granda Juca, Maria Fernanda | |
| Appears in Collections: | Artículos | |
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